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AUTHOR
Esther Luisa De Prado Fernández
Hybrid multiple diffraction in semipolar wurtzite materials: (0112)-oriented ZnMgO/ZnO heterostructures as an illustration
X-ray diffraction has been widely used to characterize the structural properties (strain and structural quality) of semiconductor heterostructures. This work employs hybrid multiple diffraction to analyze r-oriented Zn1xMgxO layers grown by molecular beam epitaxy on ZnO substrates. In such a low-symmetry material system, additional features appear in symmetric reflection scans, which are described as arising from hybrid multiple diffraction. First, the Bragg conditions necessary for these high-order processes to occur are introduced and applied to explain all the observed satellite reflections, identify the planes that contribute and compute a priori the angles at which they are observed. F…
Crystal growth and characterization of Zn1-xMgxO advanced micro- and nanostructures
Dentro de la creciente área de investigación de la física de semiconductores, los pertenecientes a la familia II-VI se han convertido en un campo fundamental de la física de materiales debido a que sus propiedades fotofísicas son únicas para crear una nueva generación de dispositivos en el campo de la fotónica y la microelectrónica. Entre ellos, los semiconductores basados en ZnO han ganado un considerable interés en la comunidad científica en parte debido a su alta energía de enlace del excitón (60 meV) la cual es 2.4 veces más alta que la energía térmica a temperatura ambiente. Este hecho puede dar lugar a emisión laser excitónica a temperaturas incluso mayores que la ambiente. Además, gr…