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J. V. Clausell
Caracterización mineralógica de materias primas cerámicas por métodos cuantitativos de difracción de rayos x
[ES] El objetivo de este trabajo es la caracterización de fases minerales presentes en materias primas utilizadas en la industria cerámica. Para ello se utilizan dos métodos cuantitativos basados en la difracción de rayos X, el método de Rietveld y un método sin estándar. Los resultados obtenidos por difracción rayos X de estos materiales policristalinos se comparan con los correspondientes análisis químicos y la composición normativa calculada. La precisión y reproducibilidad de los resultados obtenidos, en concordancia con los del análisis químico, son una de las más importantes ventajas de la difractometría cuantitativa que facilitan su utilización en la industria cerámica en el control …
A new FESEM procedure for assessment of XRD microstructural data of kaolinites
Abstract A sample preparation method for FESEM microstructural analysis of sheet silicates using oriented aggregates on metallic strips parallel to the electronic beam is described. The method allows the easy measurement of thickness of kaolinite crystallites. The results have been compared to the apparent crystallite size measured by XRD The performed measurements for a set of selected kaolinites are in the range 15–60 nm and show a good correlation with XRD crystallite thickness (in the range 11–48 nm) obtained by the Voigt function method.