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RESEARCH PRODUCT
EXAFS-Messungen an dotierten Heusler-Verbindungen
S. WurmehlJonder MoraisGerhard H. FecherMaria Do Carmo Martins AlvesClaudia Felsersubject
Inorganic ChemistryCrystallographyExtended X-ray absorption fine structureChemistryyear | journal | country | edition | language |
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2004-09-01 | Zeitschrift für anorganische und allgemeine Chemie |