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RESEARCH PRODUCT

EXAFS-Messungen an dotierten Heusler-Verbindungen

S. WurmehlJonder MoraisGerhard H. FecherMaria Do Carmo Martins AlvesClaudia Felser

subject

Inorganic ChemistryCrystallographyExtended X-ray absorption fine structureChemistryhttps://doi.org/10.1002/zaac.200470153