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RESEARCH PRODUCT
Interférométrie et réflectométrie haute résolution en lumière incohérente : modélisation d'interférogrammes
F De FornelCyril LupiEric TanguyChristian Boisrobertsubject
[PHYS.PHYS.PHYS-OPTICS] Physics [physics]/Physics [physics]/Optics [physics.optics]Physics[PHYS.PHYS.PHYS-OPTICS]Physics [physics]/Physics [physics]/Optics [physics.optics][ PHYS.PHYS.PHYS-OPTICS ] Physics [physics]/Physics [physics]/Optics [physics.optics]010308 nuclear & particles physics020208 electrical & electronic engineeringGeneral Physics and Astronomy02 engineering and technology01 natural sciences[SPI.TRON] Engineering Sciences [physics]/Electronics[SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics[ SPI.TRON ] Engineering Sciences [physics]/Electronics010309 optics0103 physical sciences0202 electrical engineering electronic engineering information engineering010306 general physicsHumanitiesdescription
International audience; Nous présentons des résultats infrarouge de réflectométrie à basse cohérence dans des fibres optiques, des guides d'onde et des coupleurs afin de détecter les échos dûs aux défauts de propagation réflective et pour mesurer leurs propriétés optiques: pertes ou atténuation, dispersion. Cette technique est basée sur l'interférométrie et donne la plus haute résolution spatiale avec la plus faible puissance optique réfléchie. Nous balayons le bras de référence de notre interféromètre de Michelson autour de la position de la " frange en lumière blanche " et nous obtenons des interférogrammes dont les enveloppes et les franges contiennent l'information sur le spectre de la source de lumière et sur la réflectivité du bras test. Nous donnons des exemples et nous montrons que des simulations numériques sont nécessaires pour comprendre la signature des réflecteurs et déterminer leur structure physique.
year | journal | country | edition | language |
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1999-09-01 |