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RESEARCH PRODUCT
Determination of single crystal elastic constants in textured polycrystalline materials: inverse approach coupling x-ray diffraction and self consistent model applied to a copper sample
P. PochetC. ValotCh. ValotN. BacletN. GuibertN. GuibertN. GuibertL. GosmainKarim InalS. Berveillersubject
ChemistryX-ray crystallographyPhysical chemistrychemistry.chemical_elementMineralogyGeneral Materials ScienceCrystalliteSelf consistentSingle crystalCopperdescription
La diffraction des rayons X couplee a l'utilisation d'un modele polycristallin (modele auto-coherent) est utilisee pour determiner les constantes d'elasticite monocristallines d'un materiau polycristallin texture. En effet, la connaissance du tenseur de rigidite elastique cijkl d'un solide est fondamentale pour les etudes s'attachant a la comprehension des proprietes mecaniques de la matiere (approches theoriques ou experimentales). Si, d'autres techniques permettent de determiner le tenseur d'elasticite d'un materiau (ultrasons par exemple), elles necessitent souvent l'utilisation d'un monocristal. Ceci n'est pas toujours realisable, en particulier pour des alliages de concentrations variables. La diffraction des rayons X se revele alors une alternative interessante pour l'etude de materiaux polycristallins.
year | journal | country | edition | language |
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2004-01-01 | Matériaux & Techniques |