6533b870fe1ef96bd12cff92

RESEARCH PRODUCT

Nanostrukturētu daudzslāņu pārklājumu spektrālā kartēšana un analīze

Klāvs Knipšis

subject

plānas kārtiņasspektrālā kartēšanaFizikaanodizēts alumīnija oksīds

description

Darbā izstrādāta metode nanostrukturētu daudzslāņu materiālu analīzei, kas demonstrēta nanoporaina anodēta alumīnija oksīda (AAO) un plānu metāla kārtiņu biezuma noteikšanai. Daudzslāņu struktūras izveidotas uzputinot uz 100 līdz 200 nm bieza AAO slāņa plānas (10 līdz 20 nm) zelta, sudraba un alumīnija kārtiņas. Darba galvenā izpētes metode balstās uz parauga atstarošanās spektra uzņemšanu un analīzi. Lai aprēķinātu atstarošanās spektru, tiek izmantots matemātiskais modelis, kas apraksta elektrisko lauku uz daudzslāņu struktūras robežvirsmām un elektromagnētisko viļņu izplatīšanos vidē, ņemot vērā materiālu kompleksās dielektriskās funkcijas. Izmantojot matemātisko modeli, tiek iegūti pārklājuma slāņu biezuma novērtējumi, piemeklējot parametrus, kas vislabāk atbilst eksperimentālajiem mērījumiem. Darba eksperimentālā daļa sastāv no spektrālo mērījumu automatizēšanas un pētāmā apgabala spektrālās kartes iegūšanas. Izmantojot matemātisko modeli optimizēti daudzslāņu struktūras parametri maksimālā elektriskā lauka iegūšanai metāla virmas tuvumā tālākai izmantošanai optisko signālu pastiprināšanā fluorescences mērījumos.

https://dspace.lu.lv/dspace/handle/7/33469