Tecniche di Test Innovative per la Caratterizzazione di Memorie a Gate Flottante

L’affidabilità nella ritenzione dei dati memorizzati è una delle problematiche fondamentali delle memorie flash; esse vengono normalmente testate, in produzione con procedure specifiche implementate su ATE (Automated Test Equipments), per rilevare problemi di lettura, programmazione e cancellazione; vengono inoltre provate altre procedure per identificare possibili faults e per il corretto trimming dei parametri interni. Oggi, il testing classico con ATE è supportato dalle tecniche BIST (Built-In-Self-Test), tramite le quali si prevede in progetto, all’interno dei circuiti integrati, una parte di hardware e software supplementari per permettere l’auto-test (funzionale e/o parametrico), così…