0000000000716853
AUTHOR
Henri Kivistö
Advanced time-stamped total data acquisition control front-end for MeV ion beam microscopy and proton beam writing
Many ion-matter interactions exhibit [email protected] time dependences such as, fluorophore emission quenching and ion beam induced charge (IBIC). Conventional event-mode MeV ion microbeam data acquisition systems discard the time information. Here we describe a fast time-stamping data acquisition front-end based on the concurrent processing capabilities of a Field Programmable Gate Array (FPGA). The system is intended for MeV ion microscopy and MeV ion beam lithography. The speed of the system (>240,000 events s^-^1 for four analogue to digital converters (ADC)) is limited by the ADC throughput and data handling speed of the host computer.
Oi aikoja, oi tapoja : muistitieto Opettajankoulutus 2020 -selvitystyöstä
Tässä tutkimuksessa tutkittiin Opettajankoulutus 2020 -selvitystyön työryhmän jäsenten ajatuksia opettajankoulutuksen kehittämisestä. Menetelmänä hyödynnettiin muistitietotutkimusta, joka pyrki selvittämään, mitä haastateltavat halusivat tehdä, mitä uskoivat tekevänsä ja mitä arvioivat jälkikäteen tehneensä opettajankoulutuksen kehittämisen eteen. Näin pyrimme selvittämään, millaista opettajankoulutuksen kehittämistyö oli 2000-luvun alussa, mitkä tekijät siihen vaikuttivat ja tarkentamaan kuvaa opettajankoulutuksen nykytilasta. Tutkimuksemme osoittaa, että kehittämistyötä on ohjannut periaate akateemisesta opettajankoulutuksesta. Opettajankoulutus 2020 -selvitystyö ei ole syntynyt tyhjästä,…