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RESEARCH PRODUCT

Effect of coherency of domain walls on X-ray diffraction diagrams: Case a crystal with a low tetragonality

subject

description

Les diagrammes de diffraction des rayons X d'une poudre ou d'une ceramique de BaTiO 3 tetragonal ont ete etudies. Une correlation entre les caracteristiques des profils des raies de diffraction (intensite, forme, position,...) et la microstructure en domaines ferroelectriques a ete mise en evidence. A partir d'une approche numerique, le calcul des diagrammes de diffraction montre que la modification des profils des raies de diffraction du compose tetragonal est fortement dependante de la microstructure en domaines ferroelectriques. Ce a du prendre en compte l'existence d'un certain degre de coherence dans les murs de domaines entre deux domaines a 90° adjacents. Il a par ailleurs ete mis en evidence, une bonne similitude entre les donnees calculees et celles obtenues experimentalement.