6533b851fe1ef96bd12a926b
RESEARCH PRODUCT
SiO2 stikla virsmas parametru mērījumi ar mikroskopijas metodēm
Eduards Gavarssubject
Fizikadescription
Šajā bakalaura darbā tiek pētīta dažādu apstrādes veidu ietekme uz SiO2 stikla virsmu. Tika ņemtas piecas dažādi apstrādātas augstfrekveņču bezelektrodu lampas. Pirmā lampa bija bez jebkādas apstrādes, otra un trešā tika ķīmiski apstrādātas ar tekilu un spirtu, ceturtā un piektā tika apstrādātas ar Ar un Se, un Ar un As plazmu. No lampām tika iegūti stikla virsmas paraugi. Attiecīgi to virsmas tika pētītas ar atomspēku mikroskopu (AFM) un rezultāti apstrādāti ar datu apstrādes programmatūru. Rezultātā tika iegūti dati par piecu dažādu apstrādes veidu ietekmi uz stikla virsmu un tās parametriem. Mērījumus ir iespējams apskatīties 2D, 3D un tabulas veidā ar raksturīgajiem parametriem. Būtiskākais secinājums- ka katrs apstrādes veids virsmu ietekmē citādāk.
year | journal | country | edition | language |
---|---|---|---|---|
2011-01-01 |