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RESEARCH PRODUCT

Direkte infrarotspektrographische Untersuchung dünnschicht-chromatographisch getrennter Fraktionen nach Entfernung der Adsorbensschicht aus SiO2 durch Flußsäure

subject

description

Durch Behandlung mit Flussauredampfen kann die SiO2-Adsorbensschicht von Dunnschichtplatten innerhalb weniger Minuten vollstandig entfernt werden. Die chromatographisch getrennten Stoffe gehen dabei nur zu etwa 10–20% verloren. Sie hinterbleiben auf der Aluminium-Tragerplatte, die direkt als Spiegel fur die Infrarotreflexionsspektroskopie dienen kann. Es gelingt so ein direkter infrarotspektrographischer Nachweis ohne Notwendigkeit eines Transfers. Voraussetzung fur die Anwendbarkeit ist, das die nachzuweisenden Stoffe nicht fluchtig sind oder durch die Flussaurebehandlung chemisch verandert werden.