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Über Zusammenhänge zwischen der Röntgenkleinwinkelstreuung und der morphologischen Struktur verstreckter Hochpolymerer

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In der vorliegenden Arbeit wird uber Versuche berichtet, die Ergebnisse der Rontgenkleinwinkelstreuung an verstreckten Hochpolymeren mit Hilfe von elektronenmikroskopisch beobachtbaren Strukturen zu deuten. Geeignet behandelte elektronenmikroskopische Aufnahmen lassen sich als optische Gitter fur Lichtbeugungsversuche verwenden. Die daran erhaltenen Lichtbeugungsdiagramme zeigen eine Intensitatsverteilung, die mit der rontgenographisch gemessenen gut ubereinstimmt. Es lies sich zeigen, das die elektronenmikroskopisch an verschiedenen verstreckten Hochpolymeren (Polyathylen, Polyoxymethylen und Polyathylenterephthalat) gefundenen periodischen Querstrukturen nicht nur ihrem mittleren Abstand nach mit der rontgenographisch gefundenen Langperiode ubereinstimmen, sondern das sie auch die Intensitatsverteilung im Rontgenkleinwinkeldiagramm verstandlich machen. Hieraus kann man den Schlus ziehen, das die elektronenmikroskopisch beobachtete Oberflachenstruktur auch fur das Innere massiver Proben als reprasentativ angesehen werden kann.